AEMC 5070兆歐表/絕緣電阻測(cè)試儀特點(diǎn)與參數(shù)

更新時(shí)間：2020-05-14

點(diǎn)擊次數(shù)：3101

AEMC 5070兆歐表/絕緣電阻測(cè)試儀?特點(diǎn)：

● 真正的兆歐計(jì)

● 測(cè)試電壓500V, 1000V, 2500V、5000V
● 絕緣測(cè)量從10kΩ 至10 TΩ
● 可調(diào)節(jié)和可編程測(cè)試電壓40 至 5100V

● 可編程的溫度補(bǔ)償?shù)碾娮枳x數(shù)
● DAR的自動(dòng)計(jì)算,PI和DD值
● 直接測(cè)量和顯示阻力、測(cè)試電壓、運(yùn)行時(shí),電容和漏電流
● 顯示電阻,測(cè)試電壓和運(yùn)行時(shí)間
● 可編程測(cè)試運(yùn)行時(shí)間和PI比率
● 報(bào)警功能
● 顯示自動(dòng)放電和放電電壓
● 大型雙顯示器隨顯示,電壓和測(cè)量
● 堅(jiān)固耐用的雙重防風(fēng)雨攜帶箱
● RS-232接口直接打印結(jié)果界面
● 128 kb內(nèi)存存儲(chǔ)現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)數(shù)據(jù)
● 電腦遠(yuǎn)程操作
● 包括DataView軟件

AEMC 5070兆歐表/絕緣電阻測(cè)試儀?應(yīng)用：

● 測(cè)試絕緣電纜、變壓器、馬達(dá)、發(fā)電機(jī)、絕緣體和線路安裝

● 高阻或吸收測(cè)試
● 發(fā)現(xiàn)閱讀測(cè)試
● 定時(shí)電阻測(cè)量
● 介電吸收比率(DAR)和極化指數(shù)(PI)測(cè)試

● 多層絕緣測(cè)試(DD)
● 測(cè)試舊或水損壞設(shè)施長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行
● 電機(jī)絕緣電阻測(cè)量

● 電腦控制生產(chǎn)線測(cè)試

● 預(yù)見性維護(hù)將結(jié)果存儲(chǔ)在電腦的趨勢(shì)分析
● 用戶可選擇的電壓測(cè)試提供特定于應(yīng)用程序的測(cè)試

AEMC 5070參數(shù)：

交流/直流電壓測(cè)量
范圍	1至4000V
準(zhǔn)確性	1至99.9V：±（1％R + 5ct） 100至4000V：±（1％R + 3ct）
分辨率	1至99.9V：0.1V 100至999V：1V 1000至4000V：2V
頻率范圍	1至2500V：DC或15至500Hz 2501至4000V：DC
輸入阻抗	750kΩ或3MΩ（取決于范圍）
絕緣測(cè)量
測(cè)試電壓/電阻范圍	500V: 30kΩ to 2TΩ 1000V: 100kΩ to 4TΩ 2500V: 100kΩ to 10TΩ 5000V: 300kΩ to 10TΩ
測(cè)量精度	30kΩ至39.99GΩ：±（5％R + 3ct） 40.0GΩ10TΩ：±（15％R + 10ct）
可操作電壓	40至5,100V
自動(dòng)放電	放電時(shí)間<7s / µF
帶電電路指示器	如果端子電壓>測(cè)試電壓的3％，10％，20％（可由用戶選擇），則禁止測(cè)試
一般特征
可編程警報(bào)	是
DAR – PI – DD – R（t）	是
斜坡模式	沒(méi)有
步進(jìn)模式	多5個(gè)步驟（每個(gè)步驟的電壓和持續(xù)時(shí)間均可配置）
電容測(cè)量	0.005至49.99µf
漏電流測(cè)量	0至3mA
開路電壓	≤1.1 x Vn±2V（可變模式下Vn±2％）
記憶	128kB內(nèi)存/存儲(chǔ)超過(guò)1500個(gè)測(cè)試結(jié)果
通訊	帶有USB適配器的串行端口RS-232
軟件	DataView軟件（隨附）
電源	NIMH可充電電池組；外部交流供電85-256V，50 / 60Hz
電池壽命	≥1500次測(cè)試
充電時(shí)間	大約6小時(shí)（測(cè)試期間允許充電）
尺寸	10.63 x 9.84 x 7.09英寸（270 x 250 x 180mm）
重量	9.5磅（4.3千克）
海拔高度	6562'（2000m）
工作溫度	-10°至+ 55°C（14°至+ 131°F）≤80％RH
貯存溫度	-40°至+ 158°F（-40°至+ 70°C）≤90％RH
IP等級(jí)	IP 53
安全合規(guī)	EN 61010-1，EN 61557、1000V CAT III，污染等級(jí)2，CE